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受賞・特許

受賞

平成3年度 表面科学会論文賞
STMによる有機超伝導体κ-(BEDT-TTF)2Cu(NCS)2の表面の研究
吉村 雅満

平成 9年度:表面科学会奨励賞
Si(111)-7x7構造の形成過程と安定性
−STM像のバイアス依存性を利用した下層まで含めた構造解析−
三宅 晃司

平成10年度:表面科学会論文賞
6KにおけるSi(100)ダイマー間相互作用と位相欠陥のダイナミックス
重川 秀実

平成11年度:第6回(1999年春季)応用物理学会講演奨励賞
STM探針のホバーリングによるSi(001)バックルダイマーフリップフロップ運動の直接観察 (薄膜・表面 : 28p-H-8)
畠 賢治

平成11年度:日本化学会ポスター賞
シクロデキストリン・ネックレスのSTM操作と分子メモリー
三宅 晃司

平成11年度:日本MRS奨励賞
Si(100)バックルダイマーのフリップフロップ運動のダイナミクス
畠 賢治

平成11年度:日本MRS奨励賞
Scanning Tunneling Microscopy on the Formation of Lipoamide-Cyclodextrin Monolayer on Au(111)
保田 諭

平成12年度:第9回(2000年秋季)応用物理学会講演奨励賞
シクロデキストリン分子間相互作用と分子ネックレスの形成過程 (薄膜・表面 : 5p-H-13)
三宅 晃司

平成12年度:表面科学会奨励賞
Ag/Si(001)三次元島核生成のその場観察
武内 修

平成14年:応用物理学会講演奨励賞
金属上単一分子のトンネル電子誘起反応 (薄膜・表面 : 27a-P2-3)
道祖尾 恭之

平成14年:第13回(2002年秋季)応用物理学会講演奨励賞
温度可変STM-LEED装置を用いたSi(100)表面構造相転移の観察 (薄膜・表面 : 26p-ZG-4)
吉田 昭二

平成14年:表面科学奨励賞
Pd(110)上に吸着したシス2ブテン分子の振動励起による回転運動
道祖尾 恭之

平成14年:財団法人武田計測先端知財団 武田研究奨励賞 優秀奨励賞
Development of nanoscale local-bandstructure analyzing system
武内 修

平成15年:日本MRS奨励賞 (UMRS-ICAM2003 Young Scientist Awards)
Light-Assisted Local Spectroscopy of Semiconductor Materials by Using Scanning Tunneling Microscopy
武内 修

SELECTED IN Virtual Journal of Ultrafast Science
October 2003 Volume 2, Issue 10

"Site-selective silicon adatom desorption using femtosecond laser pulse pairs and scanning tunneling microscopy," Appl. Phys. Lett. 83.2333(2003)
D.N. Futaba, R. Morita, M. Yamashita, S. Tomiyama and H. Shigekawa

平成17年:筑波大学理工学研究科長表彰
STMによる吸着分子の構造解析と振動分光技術の開拓(修士論文)
小西泰彰

SELECTED IN Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology
May 10, 2004 Volume 9, Issue 18

"Light-modulated scanning tunneling spectroscopy for nanoscale imaging of surface photovoltage," Applied Physics Letters 84,3645-3647 (2004)
Osamu Takeuchi, Shoji Yoshida, and Hidemi Shigekawa

SELECTED IN Virtual Journal of Ultrafast Science
November 2004 Volume 3, Issue 11

"Probing subpicosecond dynamics using pulsed laser combined scanning tunneling microscopy", Appl. Phys. Lett. 85, 3268 (2004)
Osamu Takeuchi, Masahiro Aoyama, Ryuji Oshima, Yoshitaka Okada, Haruhiro Oigawa, Nobuyuki Sano, Hidemi Shigekawa, Ryuji Morita, and Mikio Yamashita

SELECTED IN Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology
June 13, 2005 Volume 11, Issue 23

"Tunneling spectroscopy and manipulation of single C2H2 molecule on Cu(111) surface", Phys. Rev. B 71, 193410 (2005)
Y. Konishi, Y. Sainoo, K. Kanazawa, S. Yoshida, A. Taninaka, O. Takeuchi and H. Shigekawa

平成17年度:表面科学会講演奨励賞『スチューデント部門』
Cu(100)表面におけるグリシン分子の自己組織化
-見かけの安定構造を誘起する駆動力の起源とその制御-
金澤 研

SELECTED IN Virtual Journal of Ultrafast Science
June 2006 Volume 5, Issue 6

"Nonlinear Dependences in Pulse-Pair-Excited Scanning Tunneling Microscopy", Jpn. J. Appl. Phys., Vol.45, No.3B, 1926-1930(2006)
Osamu Takeuchi, Masahiro Aoyama, Hiroyuki Kondo, Yasuhiko Terada, Atsushi Taninaka and Hidemi Shigekawa

平成19年度:表面科学会講演奨励賞
原子間力顕微鏡用いた動的分子間力分光法によるBiotin-Streptavidin結合ポテンシャルの分離測定
谷中 淳

平成19年度:第一回学際物質科学国際シンポジウム 学生ポスター優秀賞
STM-Induced Light Emission from an Organic-LED Structure
大川直広

SELECTED IN Virtual Journal of Nanoscale Science & Technology
March 24, 2008 Volume 17, Issue 12

"Probing nanoscale potential modulation by defect-induced gap states on GaAs(110) with light-modulated scanning tunneling spectroscopy" Applied Physics Letters 92, 102105 (2008)
S. Yoshida, Y. Kanitani, O. Takeuchi and H. Shigekawa

平成21年;日本表面科学会フェロー,応用物理学会フェロー
重川秀実

平成22年度:4th AEARU Advanced Materials Science Workshop Silver Poster Award
Carrier capture dynamics at localized gap states of Co nanoparticles grown on GaAs(110) probed by time-resolved STM
横田統徳

平成22年度:第15回日本表面科学会学会賞
走査プローブ顕微鏡と量子光学を融合した極限計測技術の開発
重川秀実

平成23年度:表面科学会講演奨励賞『スチューデント部門』
Si探針STMによる単一分子接合の電気伝導制御
中村美紀

平成23年度:筑波大学 Best Faculty Member (H. 24. 2. 28)
重川秀実

平成24年度オナーズプログラム (筑波大学大学院教育プログラム・文部科学省特別経費)
新奇分子デバイス機能の創出へ向けた単一分子伝導の精密計測とナノスケール制御
中村美紀

平成24年度:第60回応用物理学会春季学術講演会 Poster Award
単一分子接合の形状変化が伝導に及ぼす影響
中村美紀、吉田昭二、目良裕、武内修、重川秀実

平成24年度:筑波大学若手教員奨励賞 (H25.2.28)
武内修

平成24年度名取賞
時間分解STMによるスピンダイナミックス計測
奥山 久佳

平成26年度名取賞
一次元有機伝導体における電荷密度波-モットハバード相転移のSTM観察
細見 友香

平成26年度島津賞
光励起フェムト秒時間分解走査トンネル顕微鏡技術の開拓
重川秀実

第37回(2015年度)応用物理学会論文賞
Single-Atomic-Level Probe of Transient Carrier Dynamics by Laser-Combined Scanning Tunneling Microscopy
吉田昭二、横田統徳、武内修、大井川治宏、目良裕、重川秀実

平成27年度科学技術分野の文部科学大臣表彰「科学技術賞」
フェムト秒時間分解トンネル顕微鏡の開拓と応用に関する研究
重川秀実

平成29年度:第10回応用物理学会秋季学術講演会 Poster Award
MOCVD成長した単層TMDCのSTM観察
村瀬 康太, 小林 佑, 吉田 昭二, 武内 修, 宮田 耕充, 重川 秀実

平成30年:Best Poster Award of BLUE POSTER SESSION
Surface-mediated Electron Spin Dynamics of Mn Deposited GaAs[110] Probed by Optical Pump-probe scanning Tunneling Microscopy
Z. H. Wang, C.H .Yoon, S. Yoshida, O. Takeuchi and H. Shigekawa

令和元年春: 紫綬褒章
応用物理学研究分野
重川秀実

令和1年度:Free Radical Summer School 2019 日本酸化ストレス学会 学生ポスター最優秀賞
原子間力顕微鏡を用いた酸化ストレスによるガン細胞弾性率変化の観察
宇賀神 駿太

令和元年度BEST FACULTY MEMBER
走査トンネル顕微鏡法を基板とした極限計測技術の開拓
重川秀実

令和元年度卒業式学位記受領総代 (令和2年3月25日)
山本 祐揮

2019年度 日本表面真空学会講演奨励賞 新進研究者部門
光励起多探針計測を用いた単層WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価
茂木裕幸, 汪子涵, 番場隆文, 口裕平, 遠藤尚彦, 吉田昭二, 谷中淳, 大井川治宏, 宮田耕充, 重川秀実

第5回 薄膜・表面物理分科会 論文賞
“Development of laser-combined scanning multiprobe spectroscopy and application to analysis of WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure”, Applied Physics Express 12, 045002 (2019)
茂木 裕幸, 汪 子涵, 番場 隆文, 口 裕平, 遠藤 尚彦, 吉田 昭二, 谷中 淳, 大井川 治宏, 宮田 耕充, 武内 修, 重川秀実

第36回 中小企業優秀新技術・新製品賞 優秀賞と産学官連携特別賞
ピコ秒時間分解走査トンネル顕微鏡
重川秀実

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特許

シリコンナノパーチィクルのパターニング方法及びこの方法に用いる有機分子
重川秀実、村上浩一、畠 賢治、牧村哲也
2001−159710号 (出願日 2001.5.28)

(PCT) 遅延時間変調型フェムト秒時間分解走査プローブ顕微鏡装置
重川秀実、武内修、山下幹雄、森田隆二
国際公開番号 :WO2003/046519 (出願日 2001.11.26、 国際出願日 2002.11.25)
EPO特許番号 :第1460410号

ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置
重川秀実、武内修
国際公開番号 :2006−322662号 (出願日 2006.11.29)
国際出願番号 :第PCT/JP2007/072988号 (出願日 2007.11.28)

ヘテロダインビートブローブ走査ブローブ顕微鏡
松山 英治、重川秀実、根本 承次郎、中村 潤児、大井川 治宏、武内修、保田 諭
国際公開番号 :2006−000007号 (出願日 2007.3.5)

ポンププローブ測定装置
重川秀実、武内修
2011-169682 (出願日 2011.8.2)
国際出願番号 :第PCT/JP2012/069517号 (出願日 2012.7.31)
公開番号 :2013−32993号 (公開日 2013.2.14)

走査プローブ顕微鏡
重川秀実
出願番号 :特願2018-007557 号 (出願日 2018.1.19)

測定装置、近接場の測定方法
重川秀実、吉田昭二
出願番号 :特願2018-153746号 (出願日 2018.8.17)

光出力システム、測定システム、光学的ポンプ・プローブ走査トンネル顕微鏡システム、演算器、プログラム
重川秀実、武内修、汪子涵
出願番号 :特願2018-233878号 (出願日 2018.12.13)

観察システム、観察方法
重川 秀実、谷中 淳
出願番号 :特願2019-085774号 (出願日 2019.4.26)
国際出願番号 :第PCT/JP2020/017681号 (出願日 2020.4.24)

分光観察システム、観察方法
重川 秀実、嵐田 雄介
出願番号 :特願2020-100165号 (出願日 2020.6.9)

測定システム、測定方法
重川秀実、茂木裕幸
出願番号 :特願2024- 78902(出願日:2024.5.14)